Chairmen: D. Appello (Technoprobe), A. Baschirotto (U. Milan-Bicocca)
La Lombardia e l'Italia costituiscono un polo strategico di rilevanza internazionale nella progettazione e nello sviluppo dei circuiti integrati. In questo panorama di eccellenza, il Testing Automatico rappresenta un passaggio cruciale e imprescindibile per assicurare standard elevati di qualità, affidabilità e sostenibilità nella produzione delle tecnologie elettroniche di nuova generazione.
Per rispondere con efficacia alle dinamiche di un settore in rapida evoluzione, l'Università di Milano-Bicocca e Technoprobe sono liete di presentare la prima edizione del Workshop sul Testing Automatico di Circuiti Integrati, mirato a promuovere una maggiore strutturazione del settore per stimolare l'innovazione e facilitare il trasferimento tecnologico.
Trattandosi di un'iniziativa a carattere nazionale, il Workshop nasce con l'obiettivo primario di creare un network italiano coordinato tra gli esperti del settore. Questa rete integrata permetterà fin da subito una maggiore efficienza operativa, ponendo al contempo le basi per presentarsi in modo più forte, coeso e strutturato all'interno del panorama internazionale.
Nel corso della giornata, i partecipanti avranno modo di:
L'evento si inserisce nel quadro strategico delineato dalla recente costituzione dell'ATLab (Automatic Testing Laboratory) presso l'Università degli Studi di Milano-Bicocca. L'ATLab nasce con la missione di fungere da ponte solido tra formazione, ricerca e mondo del lavoro attraverso tre pilastri fondamentali: Ricerca scientifica, Formazione specialistica e Disseminazione.
In tale prospettiva di crescita, a partire dall'Anno Accademico 2027/28 l'Ateneo integrerà all'interno di un insegnamento universitario un modulo incentrato sul Testing Automatico, avviando la preparazione di figure professionali qualificate e rispondenti alle esigenze del mercato.
L'obiettivo degli organizzatori è rendere il Workshop un appuntamento annuale di riferimento per la comunità italiana, con l'auspicio di coinvolgere gradualmente nuovi partner e realtà del settore nella sua organizzazione.
In questa prospettiva, gli organizzatori sono già attivi per candidare questa stessa sede ad ospitare nei prossimi anni uno degli eventi più importanti del settore a livello europeo: un traguardo ambizioso per il quale sarà indispensabile il pieno sostegno e la collaborazione attiva di tutta la comunità italiana.
| Ora | Intervento / Sessione | Relatore / Ente |
|---|---|---|
| 08.00 | Registration | |
| 09.00 | Opening | C. Riccardi (Direttore Dip. di Fisica) |
| 09.15 | "Bridging Innovation and Technological Sovereignty: The Strategic Role of Automatic Testing from Research to Market" | C. Musca (ANIE) |
| 09.35 | "AI-Assisted Feasibility Analysis of Probe Cards for WBG Device Testing" | F. Cavenaghi, M. Zegaoui (Technoprobe) |
| 09.55 | "Modeling ATE Test-Hardware for Pre-Silicon Validation in a SystemC-AMS Virtual Testing Framework" | A. Shah (U. Milan-Bicocca) |
| 10.15 | "Finding the Sweet Spot: Test & Stress Optimization for complex automotive MCUs" | C. Bertani (STMicroelectronics) |
| 10.35 | "Challenges and solutions for High Voltage/Current ATE testing of Gate Drivers" | D. Turossi (Infineon) |
| 11.00 | Coffee Break | |
| 11.20 | "Production testing challenges at 400Gbit/s and beyond" | R. Massolini (Marvell) |
| 11.40 | "TestYard: Open-Source Benchmarks from Chipyard framework for VLSI hardware testing" | G. Iaria (PoliTorino) |
| 12.00 | "From Silicon Validation to Mass Production: a unified Testing Strategy" | G. Lastella (Inventvm) |
| 12.40 | Lunch Break | |
| 14.00 | "Rethinking Semiconductor Testing: A UX-Based Test Operating System Powered by AI" | E. Giusti (Cosmic) |
| 14.20 | "Tools and techniques for photonic testing" | A.I. Melloni (PoliMilano) |
| 14.40 | "Automating validation in high-speed Serdes" | A. Ressia (Synopsys) |
| 15.00 | Panel Discussion | |
| 16.00 | Conclusions | |
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